Red de Respuestas Legales - Derecho empresarial - Principio de prueba de tensión de puertaPrincipio de prueba de tensión de puerta Un método para probar un dispositivo semiconductor incluye formar un circuito de prueba sobre un sustrato semiconductor. El circuito de prueba incluye una pluralidad de interconexiones conectadas eléctricamente a un conjunto de estructuras de dispositivos soportadas por un sustrato semiconductor. Los circuitos de prueba se utilizan para probar la estructura de cada dispositivo, como la tensión de la puerta o la prueba de corriente de fuga. Después de la prueba, elimine varias interconexiones. Según la información relevante consultada: br & gt1, documento de patente chino 1. Investigación sobre el control de la nucleación y el mecanismo de crecimiento rápido del monocristal de grafeno a escala de oblea.