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Este documento proporciona pautas para la entrega adecuada de energía en placas base diseñadas para puertos USB de alta velocidad y paneles frontales. El material cubierto aquí se divide en tres categorías: pruebas de hundimiento de diseño, pruebas de caída de diseño y consideraciones de E/S del panel frontal. El funcionamiento del USB de alta velocidad se describe en la Revisión de especificación USB 2.0, el enrutamiento de la señal USB se describe en placas base de 4 capas y se describen los estándares de diseño en las plataformas USB de alta velocidad.

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Este documento pretende ser una guía para el diseño de la placa base del puerto USB de suministro de energía. Dirección del archivo, los problemas más comunes causados ​​por USB: si la prueba eléctrica falla, esto no funciona correctamente y diseña métodos para evitar tales problemas.

Para realizar pruebas de compatibilidad del sistema y la placa base, comuníquese con un laboratorio de pruebas independiente. Para obtener la información más reciente sobre las pruebas de cumplimiento de USB-IF y los requisitos de prueba, visite el sitio web del programa USB-IF.

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