¿Qué tan difícil es el examen de topógrafo registrado de primer nivel?
Hay tres materias en el nivel uno y dos materias en el nivel dos. Entre ellos, el nivel del examen de topógrafo registrado de primer nivel es relativamente alto y relativamente difícil. Se divide en tres temas: leyes y reglamentos de metrología y conocimiento integral, procesamiento de datos de metrología y práctica profesional de metrología, y análisis de casos profesionales de metrología. El examen se divide en tres días y medio.
Las preguntas del examen de análisis de casos para la carrera de metrología son preguntas subjetivas, mientras que otras materias del examen son preguntas objetivas, es decir, preguntas de opción múltiple, que se pueden completar en la hoja de respuestas. Debido a que el curso de análisis de casos de medición implica cálculos, respuestas subjetivas y otros factores, se requiere cierta base para aprobar el examen, que es más difícil que el topógrafo registrado de nivel 2.
Requisitos de inscripción para el examen de calificación profesional de metrología registrado de primer nivel:
(1) Obtener un título universitario de una universidad de ciencias e ingeniería y haber trabajado durante 6 años, incluidos 4 años en tecnología metrológica;
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(2) Obtener una licenciatura en ciencias o ingeniería y trabajar durante 4 años o más, incluidos 3 años o más en tecnología metrológica
(3) Obtener una doble licenciatura en ciencias o ingeniería o graduarse de una promoción, haber trabajado durante 3 años, incluidos 2 años en tecnología de metrología.
(4) Obtener una maestría en; ciencias o ingeniería, y haber trabajado durante 2 años, incluido 1 año en tecnología metrológica;
(5) Quienes hayan obtenido un doctorado en ciencias o ingeniería y hayan trabajado en tecnología metrológica durante un año;
(6) Quienes hayan obtenido los correspondientes títulos académicos o títulos en otras disciplinas tendrán un año adicional de experiencia laboral y experiencia laboral mínima en tecnología metrológica.