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Cómo analizar patrones y datos de difracción de rayos X en polvo

Utilizando patrones y datos de difracción de rayos X en polvo,

se puede analizar el espectro para obtener una conclusión cualitativa sobre la muestra: si la sustancia es un fármaco recientemente desarrollado o una patente genérica. medicamento que ha caducado Se utiliza a menudo en la identificación autorizada de medicamentos;

Después de un estricto análisis y cálculo de líneas espectrales, se puede analizar cuantitativamente el contenido, la proporción, la pureza, etc. de la sustancia identificada;

Las dos aplicaciones anteriores son para sustancias: compuestos, sustancias puras, aleaciones, masas fundidas, etc. De hecho, también puede apuntar a una determinada fase cristalina: análisis cualitativo de una fase monocristalina; análisis cuantitativo de una fase monocristalina;

Se puede analizar la cristalinidad del objeto identificado;... ...

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A Preguntas y respuestas similares son las siguientes:

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Cómo calcular el número de fase basándose en el patrón de difracción de rayos X

Hicimos el X- patrón de difracción de rayos del producto hace unos días, pero no hay valores para las fases α y β. Además, ¿puedes decirme cómo se representan estas palabras en inglés en el patrón de difracción de rayos X?

ESCANEO: 3.0/85.0/0.02/0.15(seg),Cu(40kV,30mA),I(cps)=339,

PICO: 21 puntos/filtro parabólico, Umbral=3.0,Corte=0.1%,BG=3/1.0,Peak-top=cumbre

NOTA:intensidad=CPS,2t(0)=0.0(grados),longitud de onda para calcular el espaciado d= 1.54056? (CU/K-alpha1)

Pregunta adicional: ¿Se puede calcular en base a estos datos? ¿Existe alguna fórmula específica? ¿Qué significan estas expresiones en inglés? ¡urgente!

2-Theta d(?) BG Altura Altura% Área Área% FWHM XS(?)

13,583 6,5135 8 110 33,0 26,8 38,2 0,207 639

19,136 4,6342 4 24 7,2 5,4 7,7 0,191 689

20,160 4,4010 5 39 11,7 9,9 14,1 0,216 514

20,741 4,2791 4 142 42,6 34,4 49,0. 206 560

23.099 3.8472 4 65 19,5 17,7 25,3 0,232 441

23,558 3,7733 5 115 34,5 26,7 38,0 0,197 586

26,641 3,3432 7 79 23,7 21,5 30,7 0,232 31

27,238 3,2714 6 333 100,0 70,1 100,0 0,179 678

31,159 2,8680 5 143 42,9 36,0 51,4 0,214 474

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La respuesta a "Cómo calcular el número de fase basándose en el patrón de difracción de rayos X" es el siguiente:

SCAN:3.0/85.0 /0.02/0.15(seg),Cu(40kV,30mA),I(cps)=339,

Escaneo: desde 3.0 grados /a 85,0 grados/paso 0,02 grados/tiempo 0,15 (seg), rayos X Cu (40 kV, 30 mA), I (cps) = 339, la intensidad máxima más fuerte I1 = 339 (cuentas por segundo)

PICO: 21 puntos/Parabólico Número de pico: 21 /Parabólico

Filtro, Umbral=3,0, Corte=0,1%, BG=3/1,0, Pico superior=filtro de cumbre, Umbral=3,0, Corte límite=0.1%, Pico-superior=Pico-pico

NOTA:intensidad=CPS,2t(0)=0.0(grados),longitud de onda para calcular el espaciado d=1.54056?(CU/K- alpha1) Nota: intensidad = cuentas por segundo, 2t(0) =0,0 (grados), la longitud de onda utilizada para calcular el espaciado de la red d = 1,54056 (objetivo de cobre CU/K-alpha1/línea K-alpha 1)

Fórmula de la ley de Bragg:

2d sen θ = nλ, donde λ es la longitud de onda de los rayos X, λ=1.54056?, el orden de difracción n es cualquier entero positivo, aquí generalmente el Se toma el pico de difracción de primer orden, n=1.

Cuando los rayos X inciden en un plano atómico con un espacio d entre planos de red de su cristal o parte de la muestra de cristal en un ángulo rasante θ (el ángulo complementario del ángulo incidente, también conocido como ángulo de Bragg ángulo), puede satisfacer la ecuación de Bragg, midiendo así este conjunto de patrones de difracción de polvo de rayos X (datos).

Cuando calcules, ten en cuenta:

La primera columna de datos es el ángulo 2θ. Debes dividirlo por 2 para usar θ en la fórmula.

Los datos de la segunda columna, la unidad de d es?,

Los datos de la tercera columna, BG, pueden ser la abreviatura de fondo; Los datos de la cuarta columna, Altura del pico, valor de recuento;

La quinta columna de datos, altura del pico relativa (%), es el valor de intensidad relativa que utiliza el pico más fuerte como estándar de normalización;

La sexta columna de datos, área máxima;

Los datos de la séptima columna, área máxima relativa (%);

Los datos de la octava columna, FWHM- Ancho completo a la mitad del ancho máximo (pulso) del pico a la mitad del máximo Generalmente, la altura se utiliza para calcular la intensidad del pico, que trata los picos como picos regulares; Sin embargo, este FWHM puede proporcionar información de pico específica, lo que tendrá especial importancia durante el análisis.

La novena columna de datos, XS (?), XS es ​​el tamaño de grano (?).

Los valores de las fases α y β deben obtenerse analizando el espectro y posteriormente comprobando, identificando y calculando los valores estándar en la tarjeta PDF (“Powder Diffraction Card Set”).