Cómo analizar patrones y datos de difracción de rayos X en polvo
Utilizando patrones y datos de difracción de rayos X en polvo,
se puede analizar el espectro para obtener una conclusión cualitativa sobre la muestra: si la sustancia es un fármaco recientemente desarrollado o una patente genérica. medicamento que ha caducado Se utiliza a menudo en la identificación autorizada de medicamentos;
Después de un estricto análisis y cálculo de líneas espectrales, se puede analizar cuantitativamente el contenido, la proporción, la pureza, etc. de la sustancia identificada;
Las dos aplicaciones anteriores son para sustancias: compuestos, sustancias puras, aleaciones, masas fundidas, etc. De hecho, también puede apuntar a una determinada fase cristalina: análisis cualitativo de una fase monocristalina; análisis cuantitativo de una fase monocristalina;
Se puede analizar la cristalinidad del objeto identificado;... ...
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A Preguntas y respuestas similares son las siguientes:
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Cómo calcular el número de fase basándose en el patrón de difracción de rayos X
Hicimos el X- patrón de difracción de rayos del producto hace unos días, pero no hay valores para las fases α y β. Además, ¿puedes decirme cómo se representan estas palabras en inglés en el patrón de difracción de rayos X?
ESCANEO: 3.0/85.0/0.02/0.15(seg),Cu(40kV,30mA),I(cps)=339,
PICO: 21 puntos/filtro parabólico, Umbral=3.0,Corte=0.1%,BG=3/1.0,Peak-top=cumbre
NOTA:intensidad=CPS,2t(0)=0.0(grados),longitud de onda para calcular el espaciado d= 1.54056? (CU/K-alpha1)
Pregunta adicional: ¿Se puede calcular en base a estos datos? ¿Existe alguna fórmula específica? ¿Qué significan estas expresiones en inglés? ¡urgente!
2-Theta d(?) BG Altura Altura% Área Área% FWHM XS(?)
13,583 6,5135 8 110 33,0 26,8 38,2 0,207 639
19,136 4,6342 4 24 7,2 5,4 7,7 0,191 689
20,160 4,4010 5 39 11,7 9,9 14,1 0,216 514
20,741 4,2791 4 142 42,6 34,4 49,0. 206 560
23.099 3.8472 4 65 19,5 17,7 25,3 0,232 441
23,558 3,7733 5 115 34,5 26,7 38,0 0,197 586
26,641 3,3432 7 79 23,7 21,5 30,7 0,232 31
27,238 3,2714 6 333 100,0 70,1 100,0 0,179 678
31,159 2,8680 5 143 42,9 36,0 51,4 0,214 474
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La respuesta a "Cómo calcular el número de fase basándose en el patrón de difracción de rayos X" es el siguiente:
SCAN:3.0/85.0 /0.02/0.15(seg),Cu(40kV,30mA),I(cps)=339,
Escaneo: desde 3.0 grados /a 85,0 grados/paso 0,02 grados/tiempo 0,15 (seg), rayos X Cu (40 kV, 30 mA), I (cps) = 339, la intensidad máxima más fuerte I1 = 339 (cuentas por segundo)
PICO: 21 puntos/Parabólico Número de pico: 21 /Parabólico
Filtro, Umbral=3,0, Corte=0,1%, BG=3/1,0, Pico superior=filtro de cumbre, Umbral=3,0, Corte límite=0.1%, Pico-superior=Pico-pico
NOTA:intensidad=CPS,2t(0)=0.0(grados),longitud de onda para calcular el espaciado d=1.54056?（CU/K- alpha1） Nota: intensidad = cuentas por segundo, 2t(0) =0,0 (grados), la longitud de onda utilizada para calcular el espaciado de la red d = 1,54056 (objetivo de cobre CU/K-alpha1/línea K-alpha 1)
Fórmula de la ley de Bragg:
2d sen θ = nλ, donde λ es la longitud de onda de los rayos X, λ=1.54056?, el orden de difracción n es cualquier entero positivo, aquí generalmente el Se toma el pico de difracción de primer orden, n=1.
Cuando los rayos X inciden en un plano atómico con un espacio d entre planos de red de su cristal o parte de la muestra de cristal en un ángulo rasante θ (el ángulo complementario del ángulo incidente, también conocido como ángulo de Bragg ángulo), puede satisfacer la ecuación de Bragg, midiendo así este conjunto de patrones de difracción de polvo de rayos X (datos).
Cuando calcules, ten en cuenta:
La primera columna de datos es el ángulo 2θ. Debes dividirlo por 2 para usar θ en la fórmula.
Los datos de la segunda columna, la unidad de d es?,
Los datos de la tercera columna, BG, pueden ser la abreviatura de fondo; Los datos de la cuarta columna, Altura del pico, valor de recuento;
La quinta columna de datos, altura del pico relativa (%), es el valor de intensidad relativa que utiliza el pico más fuerte como estándar de normalización;
La sexta columna de datos, área máxima;
Los datos de la séptima columna, área máxima relativa (%);
Los datos de la octava columna, FWHM- Ancho completo a la mitad del ancho máximo (pulso) del pico a la mitad del máximo Generalmente, la altura se utiliza para calcular la intensidad del pico, que trata los picos como picos regulares; Sin embargo, este FWHM puede proporcionar información de pico específica, lo que tendrá especial importancia durante el análisis.
La novena columna de datos, XS (?), XS es el tamaño de grano (?).
Los valores de las fases α y β deben obtenerse analizando el espectro y posteriormente comprobando, identificando y calculando los valores estándar en la tarjeta PDF (“Powder Diffraction Card Set”).