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¿Cuándo fue la última vez que se revisó la ley de patentes de China?

Análisis jurídico: La Ley de Patentes I ha sido revisada tres veces, la revisión más reciente fue en 2008 y la versión de 2008 está actualmente en vigor. Desde su implementación en 1985, la Ley de Patentes ha transcurrido 33 años y ha sido objeto de tres revisiones. También ha sido testigo de los altibajos de la industria nacional de propiedad intelectual desde sus inicios hasta su rápido desarrollo.

Si el caudal es muy inferior al caudal mínimo para garantizar la precisión, no habrá salida (como un caudalímetro de vórtice) o la señal de salida se cortará a una señal pequeña (como como caudalímetro de presión diferencial), lo que perjudica al proveedor. Tampoco es justo. Para evitar pérdidas de ganancias, para un conjunto específico de equipos de medición de energía térmica, las partes de la oferta y la demanda a menudo acuerdan un cierto valor de flujo como el "flujo límite inferior acordado" en función del rango de medición del flujo y el rango alcanzable. Si el caudal real es inferior al valor acordado, se utilizará el caudal límite inferior de facturación. Los departamentos administrativos metrológicos de los gobiernos populares a nivel de condado o superior pueden establecer instituciones de verificación metrológica según sea necesario, o autorizar a las instituciones de verificación metrológica de otras unidades a realizar la verificación obligatoria y otras tareas de verificación y prueba. El personal que realice las tareas de calibración y ensayo especificadas en el párrafo anterior deberá superar el examen. Esta función suele implementarse en instrumentos de visualización de flujo. El departamento administrativo metrológico del gobierno popular local a nivel de condado o superior establecerá instrumentos de medición públicos estándar basados ​​en las necesidades de la región y los utilizará después de aprobar la evaluación realizada por el departamento administrativo metrológico del gobierno popular a nivel superior. . Las empresas e instituciones pueden establecer estándares de medición para su propio uso según sea necesario. Se utilizarán los estándares de medición más altos después de aprobar la evaluación realizada por el departamento administrativo de medición del gobierno popular correspondiente. La verificación metrológica se realizará in situ de acuerdo con el principio de economía y razonabilidad. La verificación metrológica deberá realizarse de acuerdo con el Cuadro del Sistema Nacional de Verificación Metrológica. La Mesa del Sistema Nacional de Verificación de Metrología es formulada por el departamento administrativo metrológico del Consejo de Estado.

Base jurídica: “Ley de Patentes de la República Popular China”.

Artículo 39: Si una solicitud de patente de invención no se rechaza después de un examen sustancial, el departamento de administración de patentes del Consejo de Estado tomará la decisión de otorgar el derecho de patente de invención, emitirá un certificado de patente de invención, y registrarse y anunciarlo al mismo tiempo. El derecho de patente de invención surtirá efectos a partir de la fecha de su anuncio.

Artículo 3 El Departamento de Administración de Patentes del Consejo de Estado es responsable de gestionar el trabajo de patentes en todo el país; acepta y examina de manera uniforme las solicitudes de patentes y otorga los derechos de patente de acuerdo con la ley. Los departamentos de gestión de patentes de los gobiernos populares de las provincias, regiones autónomas y municipios directamente dependientes del Gobierno Central son responsables de la gestión de patentes dentro de sus respectivas regiones administrativas.